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針對PCBA測試中的(de)ICT測試技術進行介(jiè)紹
針對PCBA測試中的(de)ICT測試技術進行介(jiè)紹。
ICT測試時主要通(tōng)過測試探針接觸(chù)PCBA闆上的測試點,可(kě)以檢測出線路的(de)短路、開路以及元(yuan)器件焊接等故障(zhang)問題。能夠定量地(dì)對電阻、電容、電感(gan)、晶振等器件進行(háng)測量,對二極管、三(san)極管、光藕、變壓器(qì)、繼電器、運算放大(dà)器、電源模塊等進(jìn)行功能測試,對中(zhōng)小規模的集成電(dian)路進行功能測試(shì),如74系列、Memory 類、常用驅(qu)動類、交換類等IC。
ICT測(ce)試的一些方法有(you):
1、模拟器件測試:利(lì)用運算放大器進(jìn)行測試。
2、Vector(向量)測試(shì):對數字IC,采用Vector測試(shì)。向量測試類似于(yú)真值表測量,激勵(lì)輸入向量,測量輸(shu)出向量,通過實際(jì)邏輯功能測試判(pàn)斷器件的好壞。
對(duì)模拟IC的測試,可根(gen)據IC實際功能激勵(lì)電壓、電流,測量對(dui)應輸出,當作功能(néng)塊測試。
ICT測試處于(yu)生産環節的後端(duān),PCBA測試的初道工序(xu),可以及時的發現(xiàn)PCBA闆生産過程的問(wèn)題,有助于改善工(gong)藝,增加生産的效(xiào)率。
ICT測試時主要通(tōng)過測試探針接觸(chù)PCBA闆上的測試點,可(kě)以檢測出線路的(de)短路、開路以及元(yuan)器件焊接等故障(zhang)問題。能夠定量地(dì)對電阻、電容、電感(gan)、晶振等器件進行(háng)測量,對二極管、三(san)極管、光藕、變壓器(qì)、繼電器、運算放大(dà)器、電源模塊等進(jìn)行功能測試,對中(zhōng)小規模的集成電(dian)路進行功能測試(shì),如74系列、Memory 類、常用驅(qu)動類、交換類等IC。
ICT測(ce)試的一些方法有(you):
1、模拟器件測試:利(lì)用運算放大器進(jìn)行測試。
2、Vector(向量)測試(shì):對數字IC,采用Vector測試(shì)。向量測試類似于(yú)真值表測量,激勵(lì)輸入向量,測量輸(shu)出向量,通過實際(jì)邏輯功能測試判(pàn)斷器件的好壞。
對(duì)模拟IC的測試,可根(gen)據IC實際功能激勵(lì)電壓、電流,測量對(dui)應輸出,當作功能(néng)塊測試。
ICT測試處于(yu)生産環節的後端(duān),PCBA測試的初道工序(xu),可以及時的發現(xiàn)PCBA闆生産過程的問(wèn)題,有助于改善工(gong)藝,增加生産的效(xiào)率。